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當前位置:首頁產(chǎn)品中心電力通訊·電阻系列BX-Y1218A四探針液晶顯示電阻率測試儀
產(chǎn)品型號:BX-Y1218A
更新時間:2024-05-15
廠商性質:生產(chǎn)廠家
訪問量:1586
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產(chǎn)品分類
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電阻率測試儀系統(tǒng) 四探針電阻率測試儀 導體電阻率測試儀 高精度電阻率測試儀 表面體積電阻率測試儀
產(chǎn)品用途: 四探針液晶顯示電阻率測試儀
覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試
硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導電薄膜(ITO導電膜玻璃等),金屬膜,導電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜,EMI防護材料,導電性纖維,導電性陶瓷等,提供中文或英文兩種語言操作界面選擇.
儀器特點: 四探針液晶顯示電阻率測試儀
采用四探針組合雙電測量方法,液晶顯示,自動測量,自動量程,自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出;選配:PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計參考國標單晶硅物理測試方法及A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響.
技術參數(shù):
1.方塊電阻 10^-5~2×10^5Ω/□
2.電阻率 10^-6~2×10^6Ω-cm
3.測試電流 0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA,10mA,100mA
4.電流精度 ±0.1%
5.電阻精度 ≤0.3%
6.顯示讀數(shù) 屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率
7.測試方式 雙電測量
8.電源 輸入:AC220V±10%.50Hz功耗:<30W
9.誤差 ≤3%(標準樣片結果)
10.選購功能 選購1.pc軟件;選購2.方形探頭;選購3.直線形探頭;選購4.測試平臺;5.標準電阻.
11.測試探頭 探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格;探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針
12.標準電阻(選購) 規(guī)格:1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ